4. X線回折 1 目的 銅の粉末試料を用いたX 線回折測定を行い、粉末X 線回折の測定方法と測定原理について学ぶ。 また、得られたX 線回折のデータから格子定数の計算や結晶構造の同定を行えるようになる。 あ わせて、結晶を取り扱う上で
1.専用のビュワーソフト(無料)を、お客様ご自身のパソコンにインストール 2.当社でx線ct装置による解析を実施 3.解析データが入ったdvdを当社よりお客様の手元に郵送 4.オブジェクトに実施された解析や計測結果を、お客様ご自身のパソコンで確認できます 蛍光x線分析装置（xrf）とx線回折装置（xrd）は材料の特性解析が可能で、合金検査や材料検出など数多くの目的で使用され 表面33-9_01_巻頭言_4.13.mcd Page 1 12/09/04 14:08 v4.13 巻頭言 表面科学Vol. 33, No. 9, p. 491, 2012 表面X 線回折による研究：さらなる発展と広がりを 株式会社リガク社製 UltimaⅣ（X 線回折装置）注意点および測定手順 装置管理者：技術部 志田賢 § 連絡先：研究棟I 12F 1211 室 （内線：3518）、緊急時：測定室常備のマニュアルに記載 Mail: k-shida@tech.eng.kumamoto-u.ac.jp 注意項 波長分散型蛍光X線分析装置の 原理と応用 分析の原理35 X線④ 森川敦史 （株式会社リガク） 図1 蛍光X線の発生 蛍光X線分析の用途はスクリーニングから工 程管理まで、主成分分析からppmのオーダーの 分析までと幅広くなっております。また近年では 題目：X線回折 実験日： 氏名：中島 多朗（1201078） 共同実験者：小泉 修（1201039）
x線回折法は物質の同 定,定量,さらには結晶構造の解析をおこなうことがで きるが,ここでは物質の定性と定量に問題点をしぼるこ とにする。 x線回折による方法は,結晶している物質はそれに固 有のx線回折図形をもっており,同じ物質は常に同じ図 放射光Jan. 2017 Vol.30 No.1 3 解説 共鳴軟X 線回折法の新展開 山崎裕一1,2，中尾裕則3 1東京大学大学院工学系研究科量子相エレクトロニクス研究センター 〒113 8656 東京都文京区本郷7 3 1 X線回折(XRD)の原理 回折 X 線の 強度 2018/3/15 2q(˚) Bruker Japan Webinar：回折角度 4 粉末、バルク、薄膜など 様々な試料が測定可能 です 非破壊分析です 照射角度qを変えながら 試料にX線を照射すると、 結晶構造に応じた信号 (回折パターン)が 得られます X線管球 回折角度に合わせて、試料直上に配置された散乱線防止用ナイフエッジが連動 し、適切な高さに移動します。高速集中法測定時の低角度領域での散乱線に よるバックグラウンド上昇を抑え、pb比に優れたプロファイルが得られます。ま x線回折法は固体サンプルの分析に広く利用さ れている手法である．x線回折装置はサンプルの 形状や分析の目的に応じて様々な渪定を行うこと ができる．最も一般的なのは粉末x線回折法で， 粉末サンプルの相の同定や結晶構造解析を行う渪 定方法である． x 線回折法による2次元検出器を用いた 薄膜材料の極点図測定・残留応力測定 637 折に寄与する格子面が少ないため，粗大粒の影響を受け やすい。 （2）受光側にスリット類が無いために，試料上での x 線照 射幅が角度分解能に直結する。集中法など従来の X線の基礎 回折現象について •Bragg（ブラッグ）の法則 X線波長(λ)が結晶格子面間隔(d)に入射、散乱する際(d)により 位相の干渉が発生。この回折現象をBraggの式(Braggの法則)と なる。(n)は自然数 ブラッグの法則（格子面によるX線の散乱による回 折） nO 2dsinT A
株式会社リガク社製 UltimaⅣ（X 線回折装置）注意点および測定手順 装置管理者：技術部 志田賢 § 連絡先：研究棟I 12F 1211 室 （内線：3518）、緊急時：測定室常備のマニュアルに記載 Mail: k-shida@tech.eng.kumamoto-u.ac.jp 注意項 波長分散型蛍光X線分析装置の 原理と応用 分析の原理35 X線④ 森川敦史 （株式会社リガク） 図1 蛍光X線の発生 蛍光X線分析の用途はスクリーニングから工 程管理まで、主成分分析からppmのオーダーの 分析までと幅広くなっております。また近年では 題目：X線回折 実験日： 氏名：中島 多朗（1201078） 共同実験者：小泉 修（1201039） の粉末X線回折データの模式図である。(a), (b)それ ぞれ、NaClとKClのどちらのデータであるか、(i) 現れているピークの数と構造因子、(ii)同じミラー指 数を持つピークの2θ角の大小とブラッグの条件 2d・sin θ = nλの関係の二つの観点から根拠を述べた 化学分析・x線回折グループは、分析技術を基盤とした新規分析法開発、分析技術の標準化および分析信頼性確保に向けた分析技術体系構築に取り組み、機構内外の依頼分析対応・社会貢献を行っています。 X線回折(I) 高田 昌樹 応用物理 71(3), 343-347, 2002
化学分析・x線回折グループは、分析技術を基盤とした新規分析法開発、分析技術の標準化および分析信頼性確保に向けた分析技術体系構築に取り組み、機構内外の依頼分析対応・社会貢献を行っています。 X線回折(I) 高田 昌樹 応用物理 71(3), 343-347, 2002 2次元検出器を用いてx線回折を測定することで、格子定数(2θ方向)に加えて、モザイク性(χ方向)の ばらつきを可視化することができます。 強く配向していればスポット状に、配向性が弱まるとリング状に観測されるデータが得られるため、結晶 散乱X線の角度依存性は変化する（原子散乱因子）。 2.2 結晶によるX線の回折：ラウエ関数 原子や分子が規則正しく三次元的に周 期的に並んだ結晶に一定波長λのX線が 入射すると、それぞれの原子によって散 乱されたX線は球面波として放射され、 X線回折要論: 著作者等: Cullity, B. D. Cullity, Bernard Dennis 松村 源太郎 カリティ: 書名ヨミ: Xセン カイセツ ヨウロン: 書名別名: Xsen kaisetsu yoron: 出版元: アグネ: 刊行年月: 昭和36: ページ数: 517p: 大きさ: 22cm: NCID: BN00962671 ※クリックでCiNii Booksを表示: 全国書誌番号
「X線で分子を見る」 シリーズ 1 〜単結晶X線構造解析でわかること〜 概要： 分子の3次元形状を調べる方法を探している方、X線回折がどのように利用できるか興味のある方などを対象に、単結晶構造解析の原理から説き始め、何がわかるのか、どのような
